Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Paulraj, M.
Định dạng: Ph.D Thesis
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Những chủ đề:
Optics > Photothermal deflection spectroslopy > Guide : Vijayakumar, K.P.
Miêu tả
Mô tả sách:Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P.
Mô tả vật lý:256p.

Những quyển sách tương tự