Yüklüyor......

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Paulraj, M.
Materyal Türü: Ph.D Thesis
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Konular:
Diğer Bilgiler
Diğer Bilgileri:Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P.
Fiziksel Özellikler:256p.