Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Paulraj, M.
Formato: Ph.D Thesis
Idioma:English
Publicado em: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Assuntos:
Optics > Photothermal deflection spectroslopy > Guide : Vijayakumar, K.P.
Descrição
Descrição do item:Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P.
Descrição Física:256p.

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