Ładuje się......
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Ph.D Thesis |
| Język: | English |
| Wydane: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
| Hasła przedmiotowe: |
| Deskrypcja: | Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P. |
|---|---|
| Opis fizyczny: | 256p. |