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Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| Autore principale: | |
|---|---|
| Natura: | Ph.D Thesis |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
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| Soggetti: |
| Descrizione del documento: | Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P. |
|---|---|
| Descrizione fisica: | 256p. |