Učitavanje...

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Bibliografski detalji
Glavni autor: Paulraj, M.
Format: Ph.D Thesis
Jezik:English
Izdano: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Teme:
Opis
Opis djela:Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P.
Opis:256p.