Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Paulraj, M.
Formato: Ph.D Thesis
Idioma:English
Publicado: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Subjects:
Optics > Photothermal deflection spectroslopy > Guide : Vijayakumar, K.P.
Descripción
descrición da copia:Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P.
Descrición Física:256p.

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