Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Paulraj, M.
Aineistotyyppi: Ph.D Thesis
Kieli:English
Julkaistu: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Aiheet:
Optics > Photothermal deflection spectroslopy > Guide : Vijayakumar, K.P.
Kuvaus
Huomautukset:Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P.
Ulkoasu:256p.

Samankaltaisia teoksia