Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Paulraj, M.
Formato: Ph.D Thesis
Lenguaje:English
Publicado: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Materias:
Optics > Photothermal deflection spectroslopy > Guide : Vijayakumar, K.P.
Descripción
Notas:Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P.
Descripción Física:256p.

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