Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Paulraj, M.
Format: Ph.D Thesis
Sprache:English
Veröffentlicht: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Schlagworte:
Optics > Photothermal deflection spectroslopy > Guide : Vijayakumar, K.P.
Beschreibung
Beschreibung:Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P.
Beschreibung:256p.

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