Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Paulraj, M.
Médium: Ph.D Thesis
Jazyk:English
Vydáno: Kochi Dept.of Physics - CUSAT 2004
Témata:
Optics > Photothermal deflection spectroslopy > Guide : Vijayakumar, K.P.
Popis
Popis jednotky:Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P.
Fyzický popis:256p.

Podobné jednotky