Carregant...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Ph.D Thesis |
| Idioma: | English |
| Publicat: |
Kochi
Dept.of Physics - CUSAT
2004
|
| Matèries: |
| Descripció de l’ítem: | Thesis (Ph.D),CUSAT, 2004 Guide : Vijayakumar, K.P. |
|---|---|
| Descripció física: | 256p. |