Paulraj, M. (2004). Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco. Dept.of Physics - CUSAT.
Chicago-стиль цитированияPaulraj, M. Non-destructive Evaluation of Ion Implanted Semiconducfor Thin Films Using Photothermal Deflection Spectrosco. Kochi: Dept.of Physics - CUSAT, 2004.
MLA-цитированиеPaulraj, M. Non-destructive Evaluation of Ion Implanted Semiconducfor Thin Films Using Photothermal Deflection Spectrosco. Dept.of Physics - CUSAT, 2004.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.