Paulraj, M. (2004). Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco. Dept.of Physics - CUSAT.
استشهاد بنمط شيكاغوPaulraj, M. Non-destructive Evaluation of Ion Implanted Semiconducfor Thin Films Using Photothermal Deflection Spectrosco. Kochi: Dept.of Physics - CUSAT, 2004.
MLA استشهادPaulraj, M. Non-destructive Evaluation of Ion Implanted Semiconducfor Thin Films Using Photothermal Deflection Spectrosco. Dept.of Physics - CUSAT, 2004.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.