Ładuje się......

X-ray microanalysis in the electron microscope

Opis bibliograficzny
1. autor: Chandler, John A.
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New york Amsterdam 1977
Hasła przedmiotowe:

SOS

Szczegóły zapisu SOS
Sygnatura: 578.45 L7
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana