Загрузка...

Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

Библиографические подробности
Главный автор: Siegel, Benyamin M.
Другие авторы: Beaman, Donald R.
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: New york John wiley 1975
Предметы:

SOS

Подробно о фондах из SOS
Шифр: 578.45 L5
Копировать Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working)