Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Siegel, Benyamin M.
מחברים אחרים: Beaman, Donald R.
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: New york John wiley 1975
נושאים:
Electron microscopes > Electron microscopes

SOS

פרטי מלאי ספרים מ SOS
סימן המיקום: 578.45 L5
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים