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Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
| Auteur principal: | |
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| Autres auteurs: | |
| Format: | Printed Book |
| Langue: | English |
| Publié: |
New york
John wiley
1975
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| Sujets: |
SOS
| Cote: |
578.45 L5 |
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| Exemplaire | Statut en temps réel indisponible |