Loading...

Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Siegel, Benyamin M.
Andre forfattere: Beaman, Donald R.
Format: Printed Book
Sprog:English
Udgivet: New york John wiley 1975
Fag:

SOS

Detaljer om beholdninger fra SOS
Klassifikationsnummer: 578.45 L5
Kopi Live Status Unavailable