Загрузка...
Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
| Главный автор: | Siegel, Benyamin M. |
|---|---|
| Другие авторы: | Beaman, Donald R. |
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
New york
John wiley
1975
|
| Предметы: |
Схожие документы
-
Quantitative microbeam analysis
по: Fitzgerald, A G, Ed., et al
Опубликовано: (1993) -
Electron microscopy and analysis
по: Goodhew, Peter J, et al
Опубликовано: (2001) -
Introduction to electron microscopy
по: Wischnitzer, Saul
Опубликовано: (1970) -
Principles and practice of electron microscopy
по: Watt, Ian M
Опубликовано: (1989) -
Electron microscopy methods and protocols
по: Hajibagheri, M A Nasser, Ed
Опубликовано: (1999)