Ładuje się......
Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
| 1. autor: | Siegel, Benyamin M. |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | Beaman, Donald R. |
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
New york
John wiley
1975
|
| Hasła przedmiotowe: |
Podobne zapisy
-
Quantitative microbeam analysis
od: Fitzgerald, A G, Ed., et al
Wydane: (1993) -
Electron microscopy and analysis
od: Goodhew, Peter J, et al
Wydane: (2001) -
Introduction to electron microscopy
od: Wischnitzer, Saul
Wydane: (1970) -
Principles and practice of electron microscopy
od: Watt, Ian M
Wydane: (1989) -
Electron microscopy methods and protocols
od: Hajibagheri, M A Nasser, Ed
Wydane: (1999)