Lataa...
Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
| Päätekijä: | Siegel, Benyamin M. |
|---|---|
| Muut tekijät: | Beaman, Donald R. |
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
New york
John wiley
1975
|
| Aiheet: |
Samankaltaisia teoksia
-
Quantitative microbeam analysis
Tekijä: Fitzgerald, A G, Ed., et al
Julkaistu: (1993) -
Electron microscopy and analysis
Tekijä: Goodhew, Peter J, et al
Julkaistu: (2001) -
Introduction to electron microscopy
Tekijä: Wischnitzer, Saul
Julkaistu: (1970) -
Principles and practice of electron microscopy
Tekijä: Watt, Ian M
Julkaistu: (1989) -
Electron microscopy methods and protocols
Tekijä: Hajibagheri, M A Nasser, Ed
Julkaistu: (1999)