Φορτώνει......
Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
| Κύριος συγγραφέας: | Siegel, Benyamin M. |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | Beaman, Donald R. |
| Μορφή: | Printed Book |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New york
John wiley
1975
|
| Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Quantitative microbeam analysis
ανά: Fitzgerald, A G, Ed., et al
Έκδοση: (1993) -
Electron microscopy and analysis
ανά: Goodhew, Peter J, et al
Έκδοση: (2001) -
Introduction to electron microscopy
ανά: Wischnitzer, Saul
Έκδοση: (1970) -
Principles and practice of electron microscopy
ανά: Watt, Ian M
Έκδοση: (1989) -
Electron microscopy methods and protocols
ανά: Hajibagheri, M A Nasser, Ed
Έκδοση: (1999)