Načítá se...
Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
| Hlavní autor: | Siegel, Benyamin M. |
|---|---|
| Další autoři: | Beaman, Donald R. |
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
New york
John wiley
1975
|
| Témata: |
Podobné jednotky
-
Quantitative microbeam analysis
Autor: Fitzgerald, A G, Ed., et al
Vydáno: (1993) -
Electron microscopy and analysis
Autor: Goodhew, Peter J, et al
Vydáno: (2001) -
Introduction to electron microscopy
Autor: Wischnitzer, Saul
Vydáno: (1970) -
Principles and practice of electron microscopy
Autor: Watt, Ian M
Vydáno: (1989) -
Electron microscopy methods and protocols
Autor: Hajibagheri, M A Nasser, Ed
Vydáno: (1999)