Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Siegel, Benyamin M.
Andere auteurs: Beaman, Donald R.
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New york John wiley 1975
Onderwerpen:
Electron microscopes > Electron microscopes

SOS

Exemplaargegevens van SOS
Plaatsingsnummer: 578.45 L5
Kopie Status is onbeschikbaar

Gelijkaardige items