Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Siegel, Benyamin M.
مؤلفون آخرون: Beaman, Donald R.
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: New york John wiley 1975
الموضوعات:
Electron microscopes > Electron microscopes

SOS

تفاصيل المقتنيات من SOS
رقم الطلب: 578.45 L5
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة

مواد مشابهة