Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

Opis bibliograficzny
1. autor: Siegel, Benyamin M.
Kolejni autorzy: Beaman, Donald R.
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New york John wiley 1975
Hasła przedmiotowe:
Electron microscopes > Electron microscopes
Opis
Nie ma specyfikacji.

Podobne zapisy