Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

Bibliografski detalji
Glavni autor: Siegel, Benyamin M.
Daljnji autori: Beaman, Donald R.
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: New york John wiley 1975
Teme:
Electron microscopes > Electron microscopes
Opis
Opis nije dostupan.

Similar Items