Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Siegel, Benyamin M.
Outros autores: Beaman, Donald R.
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: New york John wiley 1975
Subjects:
Electron microscopes > Electron microscopes
Descripción
Descrición non dispoñible

Títulos similares