Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Siegel, Benyamin M.
Beste egile batzuk: Beaman, Donald R.
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New york John wiley 1975
Gaiak:
Electron microscopes > Electron microscopes
Deskribapena
Deskribapenik ez dago.

Antzeko izenburuak