Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Siegel, Benyamin M.
Další autoři: Beaman, Donald R.
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New york John wiley 1975
Témata:
Electron microscopes > Electron microscopes
Popis
Žádný popis.

Podobné jednotky