Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Siegel, Benyamin M.
অন্যান্য লেখক: Beaman, Donald R.
বিন্যাস: Printed Book
ভাষা:English
প্রকাশিত: New york John wiley 1975
বিষয়গুলি:
Electron microscopes > Electron microscopes
বিবরন
বর্ণনা উপলবদ্ধ নয়।

অনুরূপ উপাদানগুলি