Trích dẫn APA

Siegel, B. M., & Beaman, D. R. (1975). Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis. John wiley.

Trích dẫn kiểu Chicago

Siegel, Benyamin M., và Donald R. Beaman. Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis. New york: John wiley, 1975.

Trích dẫn MLA

Siegel, Benyamin M., và Donald R. Beaman. Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis. John wiley, 1975.

Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.