Citace podle APA

Siegel, B. M., & Beaman, D. R. (1975). Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis. John wiley.

Styl Chicago

Siegel, Benyamin M., a Donald R. Beaman. Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis. New york: John wiley, 1975.

Citace podle MLA

Siegel, Benyamin M., a Donald R. Beaman. Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis. John wiley, 1975.

Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..