Siegel, B. M., & Beaman, D. R. (1975). Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis. John wiley.
استشهاد بنمط شيكاغوSiegel, Benyamin M., و Donald R. Beaman. Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis. New york: John wiley, 1975.
MLA استشهادSiegel, Benyamin M., و Donald R. Beaman. Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis. John wiley, 1975.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.