Wordt geladen...
X-ray photogrammetry : basic geometry and quality
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
New York
Elsevier publishing company
|
| Onderwerpen: |
SOS
| Plaatsingsnummer: |
526.982 L0 |
|---|---|
| Kopie | Status is onbeschikbaar |