Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Chen, C. Julian
Formato: livro electrónico
Idioma:English
Publicado em: OUP 2007
Edição:2nd ed.
Assuntos:
Scanning Tunneling Microscopy (STM) > Atomic Force Microscope (AFM)
Acesso em linha:http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

Internet

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