Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

other_versions_link
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Chen, C. Julian
פורמט: ספר אלקטרוני
שפה:English
יצא לאור: OUP 2007
מהדורה:2nd ed.
נושאים:
Scanning Tunneling Microscopy (STM) > Atomic Force Microscope (AFM)
גישה מקוונת:http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

אינטרנט

http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים