Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

other_versions_link
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Chen, C. Julian
Aineistotyyppi: E-kirja
Kieli:English
Julkaistu: OUP 2007
Painos:2nd ed.
Aiheet:
Scanning Tunneling Microscopy (STM) > Atomic Force Microscope (AFM)
Linkit:http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

Internet

http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

UL

Saatavuus: UL
Nide Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa

Samankaltaisia teoksia