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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

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書誌詳細
第一著者:	Chen, C. Julian
フォーマット:	eBook
言語:	English
出版事項:	OUP 2007
版:	2nd ed.
主題:	Scanning Tunneling Microscopy (STM) > Atomic Force Microscope (AFM)
オンライン･アクセス:	http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

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