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Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

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ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक:	Chen, C. Julian
स्वरूप:	ई-पुस्तक
भाषा:	English
प्रकाशित:	OUP 2007
संस्करण:	2nd ed.
विषय:	Scanning Tunneling Microscopy (STM) > Atomic Force Microscope (AFM)
ऑनलाइन पहुंच:	http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

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