Lataa...

QR-koodi

Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

other_versions_link

Bibliografiset tiedot
Päätekijä:	Chen, C. Julian
Aineistotyyppi:	E-kirja
Kieli:	English
Julkaistu:	OUP 2007
Painos:	2nd ed.
Aiheet:	Scanning Tunneling Microscopy (STM) > Atomic Force Microscope (AFM)
Linkit:	http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

Samankaltaisia teoksia

Introduction to scanning tunneling microscopy /
Tekijä: Chen, C. Julian
Julkaistu: (1993)

Introduction to scanning tunneling microscopy
Tekijä: Chen, Julian C
Julkaistu: (2013)

Introduction to scanning tunneling microscopy
Tekijä: Chen, C Julian; Author
Julkaistu: (2008)

Atomic Force Microscopy
Tekijä: Eaton, Peter
Julkaistu: (2010)

Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy: route to Femtosecond Angstrom technology
Tekijä: Yamashita, M.
Julkaistu: (2005)

Computations for the nano-scale
Tekijä: Blochl,P.E,Ed
Julkaistu: (1993)

Scanning electrochemical microscopy /
Julkaistu: (2001)

Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy : route to Femtosecond Ångstrom technology /
Julkaistu: (2005)

Scanning electron microscopy
Tekijä: Wells, Oliver C.
Julkaistu: (1974)

SCANNING ELECTROCHEMICAL MICROSCOPY
Tekijä: BARD ALLEN J
Julkaistu: (2012)

Scanning probe microscopy: analytical methods
Tekijä: Wiesendanger, Roland; Editor
Julkaistu: (1998)

Theory and practice of scanning optical microscopy /
Tekijä: Wilson, Tony
Julkaistu: (1984)

Scanning microscopy for nanotechnology: Techniques and applications
Tekijä: Zhou, Weilie, Ed.; Wang, Zhong Lin, Ed
Julkaistu: (2007)

Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
Julkaistu: (2010)

Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
Tekijä: Tsukruk,Vladimir V
Julkaistu: (2012)

Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications /
Julkaistu: (2007)

Scanning Auger electron microscopy
Tekijä: El Gomati, Mohamed M; Author, et al.
Julkaistu: (2006)

Atomic Force Microscopy
Tekijä: Eaton,Peter
Julkaistu: (2013)

Scanning electron microscopy: applications to materials and device science
Tekijä: Thornton, P R
Julkaistu: (1968)

Scanning electron microscope optics and spectrometers
Tekijä: KHURSHEED,Anjam
Julkaistu: (2011)

Scanning electron microscopy for the life sciences
Tekijä: Heide Schatten
Julkaistu: (2013)

Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
Tekijä: Foster, A.
Julkaistu: (2006)

Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
Tekijä: Samori, Paolo; Editor
Julkaistu: (2006)

Scanning Auger electron microscopy
Tekijä: El Gomati, Mohamed M; Editor, et al.
Julkaistu: (2006)

Atomic force microscopy
Tekijä: Eaton, Peter; Author, et al.
Julkaistu: (2010)

Atomic force microscopy
Tekijä: Eaton, Peter and West, Paul
Julkaistu: (2014)

Scanning probe microscopy: electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale
Tekijä: Kalinin, Sergei
Julkaistu: (2007)

Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology /
Julkaistu: (2010)

Text book of atomic force microscopy
Tekijä: Bjiender Bahl
Julkaistu: (2011)

Atomic force microscopy : biomedical methods and applications /
Julkaistu: (2004)

Scanning tunneling microscopy in surface science
Tekijä: Bowker, Michael
Julkaistu: (2010)

Atomic force microscopy : fundamental concepts and laboratory investigations /
Tekijä: Sanders, Wesley Crowell
Julkaistu: (2020)

Atomic force microscopy for biologists
Tekijä: Morris, Victor J
Julkaistu: (2010)

Introduction to tunnel construction
Tekijä: Chapman, David
Julkaistu: (2010)

Scanning transmission electron microscopy imaging and analysis
Julkaistu: (2011)

Current protocols select imaging and microscopy: a compendium of merthods from current protocols/
Julkaistu: (2013)

Scanning probe microscopy of soft matter fundamentals and practices /
Tekijä: T͡S︡ukruk, V. V.
Julkaistu: (2011)

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X/RAY MICROANALYSIS
Tekijä: LAWES GRAHAME
Julkaistu: (2008)

BIOLOGICAL Field emission Scanning Electron Microscopy
Tekijä: FLECK
Julkaistu: (2019)

Tunnelling and tunnel mechanics: a rational approach to tunnelling
Tekijä: Kolymbas, D.
Julkaistu: (2005)