Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

other_versions_link
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Chen, C. Julian
বিন্যাস: বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:English
প্রকাশিত: OUP 2007
সংস্করন:2nd ed.
বিষয়গুলি:
Scanning Tunneling Microscopy (STM) > Atomic Force Microscope (AFM)
অনলাইন ব্যবহার করুন:http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

আন্তর্জাল

http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

UL

হোল্ডিংসের বিবরণ UL
প্রতিলিপি বর্তমান অবস্থা অনুপলব্ধ

অনুরূপ উপাদানগুলি