Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

other_versions_link
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Chen, C. Julian
Format: eBook
Idioma:English
Publicat: OUP 2007
Edició:2nd ed.
Matèries:
Scanning Tunneling Microscopy (STM) > Atomic Force Microscope (AFM)
Accés en línia:http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

Internet

http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

UL

Detall dels fons de UL
Còpia Comprovació en temps real no disponible

Ítems similars