Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

other_versions_link
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Chen, C. Julian
Materyal Türü: Ekitap
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: OUP 2007
Edisyon:2nd ed.
Konular:
Scanning Tunneling Microscopy (STM) > Atomic Force Microscope (AFM)
Online Erişim:http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

Internet

http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199211500.001.0001/acprof-9780199211500

UL

Detaylı Erişim Bilgileri UL
Kopya Bilgisi Konumu erişilebilir değil.

Benzer Materyaller