High-Resolution Electron Microscopy

other_versions_link
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Spence, John C. H.
Formaat: E-boek
Taal:English
Gepubliceerd in: OUP 2014
Onderwerpen:
High resolution electron microscopy. > Atomic-resolution TEM > Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
Online toegang:http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199668632.001.0001/acprof-9780199668632

Internet

http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199668632.001.0001/acprof-9780199668632

UL

Exemplaargegevens van UL
Kopie Status is onbeschikbaar

Gelijkaardige items