High-Resolution Electron Microscopy

other_versions_link
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Spence, John C. H.
פורמט: ספר אלקטרוני
שפה:English
יצא לאור: OUP 2014
נושאים:
High resolution electron microscopy. > Atomic-resolution TEM > Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
גישה מקוונת:http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199668632.001.0001/acprof-9780199668632

אינטרנט

http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199668632.001.0001/acprof-9780199668632

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים