Siirry sisältöön
VuFind
  • Kieli
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
Tarkennettu
  • High-Resolution Electron Micro...
  • Sitaatti
  • Lähetä sähköpostilla
  • Tulosta
  • Vie tietue
    • Vienti: RefWorks
    • Vienti: EndNoteWeb
    • Vienti: EndNote
  • permanent_link
Lataa...

QR-koodi

High-Resolution Electron Microscopy

other_versions_link
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Spence, John C. H.
Aineistotyyppi: E-kirja
Kieli:English
Julkaistu: OUP 2014
Aiheet:
High resolution electron microscopy. > Atomic-resolution TEM > Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
Linkit:http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199668632.001.0001/acprof-9780199668632
  • Saatavuustiedot
  • Kuvaus
  • other_versions_title
  • Samankaltaisia teoksia
  • Henkilökuntanäyttö

Internet

http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199668632.001.0001/acprof-9780199668632

UL

Saatavuus: UL
Nide Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa

Samankaltaisia teoksia

  • High-resolution electron microscopy/
    Tekijä: Spence, John C H
    Julkaistu: (2013)
  • High-resolution electron microscopy
    Tekijä: Spence, John C H
    Julkaistu: (2003)
  • Scanning electron microscopy
    Tekijä: Wells, Oliver C.
    Julkaistu: (1974)
  • Scanning electron microscopy: applications to materials and device science
    Tekijä: Thornton, P R
    Julkaistu: (1968)
  • Scanning transmission electron microscopy imaging and analysis
    Julkaistu: (2011)

Haun vaihtoehdot

  • Hakuhistoria
  • Tarkennettu haku

Hae lisää

  • Selaa luetteloa
  • Selaa aakkosittain
  • Tutki kanavia

Tarvitsetko apua?

  • Hakuohje
  • Kysy kirjastosta
  • UKK:t
Lataa...