High-Resolution Electron Microscopy

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Détails bibliographiques
Auteur principal: Spence, John C. H.
Format: eBook
Langue:English
Publié: OUP 2014
Sujets:
High resolution electron microscopy. > Atomic-resolution TEM > Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
Accès en ligne:http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199668632.001.0001/acprof-9780199668632
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