High-Resolution Electron Microscopy

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Spence, John C. H.
Formato: eBook
Idioma:English
Publicado: OUP 2014
Subjects:
High resolution electron microscopy. > Atomic-resolution TEM > Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
Acceso en liña:http://www.oxfordscholarship.com/view/10.1093/acprof:oso/9780199668632.001.0001/acprof-9780199668632

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