טוען...

Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Servin, Manuel
מחברים אחרים: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Germany Wiley-VCH 2014
נושאים:

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 535.241 SER
עותק סטטוס עדכני לא זמין